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  • Defect detection based on monogenic signal processing [2019]

    Categoría:
    Ponencias
    Autores:
    J. Fleuret , C. Ibarra Castanedo , L. Lei , S. Sfarra , Rubén Usamentiaga Fernández , X. Maldague
    Fecha:
    01 de Enero de 2019
    Es parte de:
    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering