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  • Surface Defect System for Long Product Manufacturing Using Differential Topographic Images [2020]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    Francisco Javier de la Calle Herrero , Daniel Fernando García Martínez , Rubén Usamentiaga Fernández
    Fecha:
    01 de Enero de 2020
    Es parte de:
    Sensors