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Surface Defect System for Long Product Manufacturing Using Differential Topographic Images [2020]
- Categoría:
- Artículos
- Autores:
- Francisco Javier de la Calle Herrero , Daniel Fernando García Martínez , Rubén Usamentiaga Fernández
- Fecha:
- 01 de Enero de 2020
- Es parte de:
- Sensors
