Ponencias
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Defect detection based on monogenic signal processing [2019]
- Categoría:
- Ponencias
- Autores:
- X. Maldague , Rubén Usamentiaga Fernández , S. Sfarra , L. Lei , C. Ibarra Castanedo , J. Fleuret
- Fecha:
- 01 de Enero de 2019
- Es parte de:
- Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering