Ponencias

  • Defect detection based on monogenic signal processing [2019]

    Categoría:
    Ponencias
    Autores:
    X. Maldague , Rubén Usamentiaga Fernández , S. Sfarra , L. Lei , C. Ibarra Castanedo , J. Fleuret
    Fecha:
    01 de Enero de 2019
    Es parte de:
    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering